ASTM F 533-2002 硅片的厚度及厚度变化的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 23:01:38  浏览:8754   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforThicknessandThicknessVariationofSiliconWafers
【原文标准名称】:硅片的厚度及厚度变化的标准试验方法
【标准号】:ASTMF533-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;硅
【英文主题词】:silicon;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语