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DIN EN ISO 9220-1995 金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法(ISO9220:1988);德文版本ENISO9220:1994

作者:标准资料网 时间:2024-04-29 19:31:33  浏览:8300   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Metalliccoatings-Measurementofcoatingthickness-Scanningelectronmicroscopemethod(ISO9220:1988);GermanversionENISO9220:1994
【原文标准名称】:金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法(ISO9220:1988);德文版本ENISO9220:1994
【标准号】:DINENISO9220-1995
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1995-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:扫描电子显微镜法;测定;覆层厚度;材料试验;试验;厚度测量;定义;测量;显微分析;金属覆层
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:17_040_20
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:Photometricmeasurementonstandardmercury-arclamps
【原文标准名称】:测光标准用高压汞灯的测光方法
【标准号】:JISC7608-1962
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1962-03-01
【实施或试行日期】:1962-03-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electricity
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:弧光灯;电灯;汞蒸气灯;光学测量;光度测量法;测量;放电灯;灯;标准
【英文主题词】:mercury-vapourlamps;dischargelamps;electriclamps;lamps;arclamps;photometry(lightmeasurement);measurement;opticalmeasurement;standards
【摘要】:
【中国标准分类号】:K70
【国际标准分类号】:
【页数】:3P;A4
【正文语种】:日语


基本信息
标准名称:单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法
英文名称:Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with unidirectional terminations
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 电子元件综合
ICS分类: 电子学 >> 电子元件综合
发布部门:国家标准局
发布日期:1985-04-16
实施日期:1985-12-01
首发日期:1985-04-16
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:全国电子设备用阻容件标准化技术委员会
起草单位:电子部标准化研究所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1985-12-01
页数:3页
适用范围

本标准等效采用国际标准IEC 717(1981)《单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法》。本标准适用于电子设备中用的单向引出的电容器和电阻器。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子元件 电子元件综合 电子学 电子元件综合